廣州儀德公司專業銷售日本理學波譜，波譜不限于材料的形狀，應用多領域金屬元素的測定分析。本文章簡單介紹日本理學ZSXPrimusⅣ波長X射線荧光光譜儀對岩石樣品的定點分析及面掃描分析，爲礦石領域對岩石測定分析提供寶貴經驗。

使用儀器分析室內置的相機將岩石樣品中需要關注的測量範圍放大後進行了分析。

紅框內擴大了的範圍由右圖表示。

可以更精密地指定測量位置。

面掃3描分析結果

微區測繪

測繪數據的測繪視圖統合爲以攝像圖和數據(圖、測量數據)來表示。圖示種類有不同模式，可以采用有效的圖示。

各測量點的Mg-Kα的譜線比較

SQX方法做的定點分析結果

γ-θ樣品台徹底解決了X射線照射不均以及分光晶體反射強度不均的問題，保證樣品在X射線最強、最佳條件下測量。

測角儀快速掃描定位精度在土0.00010之內。γ-θ平台分辦率爲100μm,實現了快速精確的點、線、面分析。